E' in programma a Catania dal 27 al 30 Aprile 2015 la conferenza TECHNARTsul tema "Tecniche non distruttive e microanalitiche nell'arte e nei beni culturali".
La Conferenza vuole essere un forum scientifico per presentare e promuovere l'uso di tecniche spettroscopiche analitiche nel campo dei beni culturali. La conferenza nasce dall'impulso di TECHNART 2013 offrendo un'opportunità unica per lo scambio di conoscenze sui principali sviluppi all'avanguardia.
Gli studi sul patrimonio culturale verranno approfonditi in senso ampio, compresi quelli su pigmenti, pietre, metalli, vetro, ceramica, chemiometria sugli studi di opere d'arte, resine, fibre, applicazioni forensi nella storia dell'arte, archeologia e scienza della conservazione.
Temi della Conferenza
- Microanalisi a raggi X (XRF, PIXE, XRD, SEM-EDX)
- Microscopia confocale a raggi X (3D Micro-XRF, 3D Micro-PIXE)
- Sincrotrone, IBA e tecniche basate su neutroni
- Microscopia FT-IR e raman
- UV-Vis e NIR assorbanza/riflettanza e fluorescenza
- Tecniche analitiche basate sul laser
- Tecniche di risonanza magnetica
- Cromatogragfia (GC, HPLC) e spettrometria di massa
- Tecniche di coerenza e imaging ottica
- Spettrometria mobile e remote sensing
I contributi presentati durante la Conferenza verranno pubblicati in un numero speciale della rivista Microchemical Journal.
Gli article dovranno presentare lavori originali e non pubblicati, focalizzati sui temi dell'analitica e la bionoalitica presentati alla conferenza.
La scadenza per l'invio di contributi è il 13 ottobre 2014.
TECHNART 2015 è organizzato dai dipartimenti LNS-INFN, IBAM-CNR e dall'Università di Catania (Dipartimento di Scienze Chimiche and Dipartimento di Fisica e Astronomia).
Sito web: http://technart2015.lns.infn.it/