La conferenza TECHNART 2015 dal titolo “Non-destructive and microanalytical techniques in art and cultural heritage” si svolgerà a Catania (Italia) dal 27 al 30 aprile 2015 presso i Laboratori Nazionali del Sud dell’Istituto di Fisica Nucleare.
La conferenza è organizzata dai Laboratori Nazionali del Sud (LNS-INFN), l’Istituto per i Beni Archeologici e Monumentali (IBAM-CNR), il Dipartimento di Chimica dell’Università degli Studi di Catania in collaborazione con il gruppo di ricerca scientifica dell’ ICOM-CC e l’Associazione Italiana di Archeometria (AIAr).
L’obiettivo di TECHNART 2015 è di fornire un luogo d’incontro scientifico per presentare e promuovere l’uso di tecniche spettroscopiche di analisi nel settore del patrimonio culturale. La conferenza offre un’opportunità eccezionale e unica per lo scambio di conoscenze sui principali sviluppi tecnologici.
Gli studi patrimonio artistico e culturale sono interpretati in senso ampio, comprendendo pigmenti, pietre, metalli, vetro, ceramica, chemiometria sugli studi di opere d’arte, resine, fibre, applicazioni forensi nella storia dell’arte, archeologia e scienza della conservazione.
Temi della Conferenza
- Microanalisi a raggi X (XRF, PIXE, XRD, SEM-EDX)
- Microscopia confocale a raggi X (3D Micro-XRF, 3D Micro-PIXE)
- Sincrotrone, IBA e tecniche basate su neutroni
- Microscopia FT-IR e raman
- UV-Vis e NIR assorbanza/riflettanza e fluorescenza
- Tecniche analitiche basate sul laser
- Tecniche di risonanza magnetica
- Cromatogragfia (GC, HPLC) e spettrometria di massa
- Tecniche di coerenza e imaging ottica
- Spettrometria mobile e remote sensing
La sottomissione dei contributi inizierà nel mese di settembre 2014, mentre la scadenza per l’invio sarà il 16 gennaio 2015. Una prima bozza di programma sarà disponibile a marzo 2015.
L' Associazione AIAr annunciare che per i propri soci che hanno intenzione di partecipare, sarà riservato uno sconto sull’iscrizione.
(http://technart2015.lns.infn.it/index.php/registration)
Fonte: AIAr