Il nuovo strumento è stato presentato da XGLab durante il convegno dell'IGIIC "Lo Stato dell'Arte 10" tenutosi dal 22 al 24 novembre 2012 a Roma. Il nuovo spettrometro di analisi XRF (X-Ray Fluorescence) è basato su rivelatori a deriva di silicio (Silicon Drift Detector, SDD), è facilmente trasportabile e facile all'uso e permette l'analisi elementale qualitativa e quantitativa in numerosi campi: diagnostica e restauro di opere d'arte, scienze forensi, controllo di processi industriali, scienza nucleare, scienza dei materiali.
Elio nasce per essere utilizzato in maniera molto semplice anche grazie alla porta di collegamento USB. E' possibile eseguire misure in pochi secondi grazie al detector SDD ad ampia area con l'opzione "CUBE Inside".
Elio supera i limiti dell'XRF: misura la risoluzione delle alte energie e ha un eccellente limite di misura per quelle basse, diverse opzioni per l'anodo del tubo, i filtri e i collimatori.
L'analisi XRF è visualizzata mediante lo spettro di fluorescenza, l'immagine dell'area di analisi con la precisa posizione del punto di misura, grazie a due punti laser e ad un'immagine a maggior campo di vista grazie ad una telecamera aggiuntiva.
Elio è costituito da una testa di misura compatta, facilmente trasportabile e che può essere montata su treppiede per analisi in-situ. Il peso totale della testa di misura è 2,1 Kg.
E' possibile utilizzare ELIO anche in un box se c'è la necessità di operare in particolari condizioni di totale sicurezza.
Caratteristiche specifiche:
Caratteristiche generali
Regione di misura 1-40 keV, Na (Z=11) to U (Z=92)
LED per illuminazione del campione
Laser per il posizionamento in analisi puntuali
Videocamera microscopica per il monitoraggio del punto di analisi
Videocamera per la documentazione
Connessione al computer dedicato via USB2.0
Software per visualizzazione degli spettri e la gestione del sistema
Alcune opzioni per treppiede leggero
Pacchetto software per analisi quantitative
Kit di ricambio batteria
Kit per analisi di elementi leggeri in atmosfera di He
Detector di raggi x
Detector: Large Silicon Drift Detector con area attiva di 25 mm2
Finestra: 12 µm di Be
Risoluzione: <135eV a MnKα con raffreddamento Peltier
Rate di misura: sopra i 500.00 conteggi per secondo, con opzione "CUBE inside"
Generatore di raggi x
Materiale: Rh (su richiesta Au, Ag, Mo, W)
Potenza del tubo: da 10 a 50 kV, 5 µA min / 200 µA max
Diametro di uscita del fascio collimato: sotto i 0.5 mm
A proposito di XGLab
XGLab è una nuova società il cui core-business è lo sviluppo di strumentazione elettronica ad alta prestazione per applicazioni raggi X e gamma.
La "X" nel nome della Società si riferisce, infatti, ai raggi X, la "G" ai raggi gamma, mentre il "laboratorio" si riferisce all'atteggiamento della società di basare l'innovazione dei loro prodotti sul profonde ricerche scientifiche e tecnologiche.
XGLab è uno spin-off del "Politecnico di Milano", la principale università tecnica italiana. I fondatori XGLab provengono da un gruppo di ricerca attivo da diversi decenni nel campo dei rivelatori di radiazione, rivelatori Silicon Drift (SDD), in particolare dell'elettronica correlata. Questo gruppo è universalmente riconosciuto come di riferimento in questo campo.
Contatti:
XGLab S.r.l. Spinoff del Politecnico di Milano
Via Moretto da Brescia 2
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Tel./Fax. +39 02 49660460
www.xglab.it -
Fonte: Libera traduzione del materiale informativo recuperabile sul sito della Società XGLab S.r.l.