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Workshop sulla microscopia elettronica e la microanalisi

bruker-sem-edsSi svolgerà a Roma il 20 e il 21 maggio 2014 il Workshop su "Aspetti teorici e applicativi della microscopia elettronica e della microanalisi". L'evento è organizzato da Gambetti, Tescan, Renishaw e Bruker Nano e sarà dedicato alla Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) e alle relative tecniche micro e nano analitiche. Si terrà con programma identico nelle due giornate presso l'Hotel Mercure EUR West di Roma.

 

 

Programma Preliminare 

09.30–10.00 Registrazione partecipanti e benvenuto
10.00–10.50 Novità strumentali Tescan Orsay Holding (plasma FIB, TOF SIMS, microscopia UHR)
11.00–11.30 Bruker "5 on 1": nuove tecniche per la Microscopia Elettronica
11.30–12.00 Analisi dei materiali avanzata con la Micro-XRF Bruker per SEM
12.00–12.30 Renishaw Raman/SEM/EDS soluzioni combinate ed esempi applicativi
12.30–13.30 Pausa pranzo
13.30–15.00 Sessioni applicativo/pratiche sugli strumenti e su campioni reali
15.00–15.15 Coffee Break
15.15–17.00 Sessioni applicativo/pratiche sugli strumenti e su campioni reali

Per le sessioni pratiche saranno a disposizione un microscopio modello FERA 3 GMH con colonna FIB al plasma di Xenon , equipaggiato con spettrometro TOF SIMS, ed un microscopio ad emissione di campo Mira LMH equipaggiato con un sistema di microanalisi EDS Bruker Quantax ad alta risoluzione integrato con la nuova Microfluorescenza Bruker XTrace.

 

L'evento è gratuito, si terrà in lingua inglese ed è limitato ad un massimo di 20 partecipanti per giorno. Scadenza per la registrazione, 30 Aprile.

Per confermare la partecipazione occorre compliare la scheda allegata, ed inviarla a Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. È necessario abilitare JavaScript per vederlo. oppure via fax al numero 02 2361294. Per qualsiasi necessità è possibile contattare Bruker Italia al numero 02 70636370 oppure via email Questo indirizzo email è protetto dagli spambots. È necessario abilitare JavaScript per vederlo.

 

Scarica la scheda di registrazione

 

Fonte: Bruker

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